A noise tolerant technique for submicron dynamic digital circuits

F. Mendoza Hernández, M. Linares Aranda

Resumen


Los avances de la tecnología de circuitos integrados CMOS de muy alta escala de integración VLSI (Very-Large Scale Integration) han permitido obtener microprocesadores rápidos y de bajo consumo de potencia aplicables a sistemas portátiles, inalámbricos y multimedia. La obtención de estos microprocesadores ha sido posible gracias al escalamiento de las dimensiones de los transistores y de sus interconexiones. Sin embargo, cuando los circuitos integrados se reducen (escalan), el ruido de acoplamiento entre las interconexiones degrada el desempeño de los sistemas. Debido a esto, es necesario desarrollar técnicas de tolerancia a ruido que reduzcan los efectos del ruido con mínima degradación de desempeño de los circuitos y sistemas. En este artículo se propone una nueva técnica de tolerancia al ruido de acoplamiento. Los resultados muestran que esta técnica mejora la robustez de los circuitos comparada con la obtenida con otras técnicas recientemente publicadas y consideradas de alta tolerancia al ruido de acoplamiento. La efectividad de la técnica propuesta es verificada mediante resultados experimentales obtenidos de un circuito sumador completo diseñado y fabricado utilizando una tecnología CMOS AMS de 0.35 μm.


Palabras clave


Ruido de acoplamiento; tolerancia a ruido; circuitos integrados CMOS

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