Comparación de la precisión marginal de cofi as de zirconia entre los sistemas CAD/CAM Cerec InLab (Sirona®), CAD/CAM Zirkonzahn (Zirkonzahn®) y sistema pantográfi co Zirkograph 025 ECO (Zirkonzahn®)

María José Jiménez Suárez, Fernando Sandoval Vernimmen, Estefanía Alexandra Rodríguez Merchán

Resumen


Objetivo: Comparar la precisión marginal de cofi as de zirconia elaboradas empleando dos sistemas CAD/CAM Cerec InLab (Sirona ®) y Zirkonzahn (Zirkonzahn®) y un sistema pantográfi co Zirkograph 025 ECO (Zirkonzahn®). Material y métodos: Se elaboró un muñón maestro de Cr-Co con preparación para corona de zirconia de un premolar superior. Se fabricaron 10 cofi as de zirconia por grupo siguiendo los parámetros de cada sistema. El grupo control consistió en 10 cofi as metálicas. Se ejecutó una técnica de réplica, utilizando polivinilsiloxano elite HD+ (Zhermack®).Mediante observación estereomicroscópica con aumento de 50x, se determinó en micras la discrepancia marginal absoluta y el espesor
marginal de un punto por cara de cada cofi a. El análisis estadístico se ejecutó con el software IBM SPSS®. Para comparar los datos obtenidos se realizó el test t. Resultados: La discrepancia marginal absoluta media y el espesor marginal fue 92.14 ± 38.59 y 78.62 ± 31.33 μm para el sistema CAD/CAM Cerec InLab (Sirona ®), 38.71 ± 12.62 y 36.91 ± 13.56 μm para el sistema CAD/CAM Zirkonzahn (Zirkonzahn®), 77.92 ± 38.01 y 69.42 ± 33.23 μm para
el sistema pantográfi co Zirkograph 025 ECO (Zirkonzahn®) y 44.11 ± 15.36 y 43.74 ± 15.70 μm para el grupo control. Existieron diferencias estadísticamente signifi cativas entre los sistemas Cerec InLab (Sirona®) y Zirkograph 025 ECO (Zirkonzahn®) en comparación con el grupo control para la discrepancia marginal absoluta y el espesor marginal. No existieron diferencias estadísticamente signifi cativas entre los sistemas CAD/CAM Zirkonzahn (Zirkonzahn ®) y el grupo control. El nivel de significancia fue p > 0.001. Conclusiones: El sistema más preciso fue CAD/CAM Zirkonzahn (Zirkonzahn®). El sistema que mostró menor precisión marginal

fue Cerec InLab (Sirona®).


Palabras clave


CAD/CAM, discrepancia marginal, zirconia, sistemas pantográfi cos.

Texto completo:

PDF


DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.rodmex.2015.10.005


Contacto:

Esp. Daniela Carmona Ruiz

danyelacarmona@gmail.com

Tel. (55) 5623 22 07

ISSN: 1870-199X